X熒光光譜儀原理

時間：2024-11-04作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：523

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• 詞條

  詞條說明

• 如何使用膜厚儀測量的更加準確?

  基體金屬特性 對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網 如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。 邊緣效應 不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。 曲率 不應在試件的彎曲表面上測量。 讀數

• 常州X熒光光譜儀工廠

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