膜厚測量儀的工作原理及行業應用介紹

時間：2022-05-09

作者：江蘇一六儀器有限公司

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一六儀器生產的XTU系列光譜測厚儀具有哪些性能優勢？
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer-XRF)是一種通過X射線激發樣品中元素的特征X熒光射線，探測其光子能量和數量來進行定性、定量分析，來實現快速、無損檢測的分析儀器。江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測厚儀的研發和生產，近些年服務了眾多客戶，獲得了一直**。今天就跟著光譜測厚儀生產廠家一六儀器來了解一下XTU系列的光譜測厚儀吧。XTU系列光譜測厚儀，采
上照式x熒光光譜儀有哪些你不知道的產品細節?使用注意事項
XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移，實現**多點測量，測量軟件置入**的EFP算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。全元素上照式x熒光光譜儀被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。上照式x熒光光譜儀產品細節：高精密移動裝置快速精準定位;自動
XTU-50A高性能膜厚儀簡介及性能優勢
江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測厚儀的研發和生產，近些年服務了眾多客戶，獲得了一直**。下面就跟著一六儀器來了解一下XTU-50A高性能膜厚儀XTU-50A是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度較高的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度*、適用性強的機型。該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深
膜厚測量儀用途及優點
X射線射到電鍍層表面，產生X射線熒光，根據熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度。接下來和膜厚測量儀生產廠家了解膜厚測量儀用途及優點。膜厚測量儀用途：* 探頭可互換，與所有主機兼容;* 多種校準選項,包括一點和兩點校準,已知厚度;* 均值零點校準;* 多種語言可選;* 背光顯示,方便在昏暗環境下的操作;* 倒置顯示，翻轉測量時不妨礙正常讀數;* 可擴展探頭電纜長度(較長可達250英尺/75