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首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性,若干列光波在空間相遇時,互相疊加或互相抵消,引起光強的重新分布,在某些區(qū)域始終加強,在某些區(qū)域始終減弱,從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋,這種現(xiàn)象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學光纖光譜儀,利用干涉效應來測量薄膜厚度的原理圖。當一束光以θ1從薄膜表面入射,其中一部分光直接反射,另一部分光則以θ2進入薄膜發(fā)生折射,折射光經膜層下表面反射后,再經
Piezoconcept是壓電納米平臺,壓電納米臺和納米平移臺的領先供應商,其應用領域包括但不限于超分辨率顯微鏡、光阱和原子力顯微鏡,已經廣泛被世界一流大學和研究所從事前沿研究的知名科學家使用。Piezoconcept采用高精度硅傳感器,提供比高端電容傳感器更精確的納米定位反饋。這篇文章將帶領大家認識并了解納米平移臺的各種參數(shù)。下表是Piezoconcept一軸平移臺FOC.500的參數(shù)圖,我們可
深圳維爾克斯專業(yè)代理飛秒激光,其由于脈寬窄、頻譜寬,對色散會有特別嚴格的要求。短脈沖對色散非常敏感,當脈沖長度的平方小于群延遲色散時,會產生顯著的脈沖展寬。只有低色散的鏡片和膜層才能保證飛秒激光在傳播過程中保持原有的特性。同時,飛秒激光在傳播過程中不可避免地會發(fā)生展寬或啁啾,需要利用特別的負色散鏡進行調節(jié)補償,因此低群速度色散GDD反射鏡和負色散鏡對飛秒激光的應用特別關鍵。德國Layertec在低
8-14um,基于a-Si非晶硅材料探測器的遠紅外相機Xenics紅外相機的LWIR長波紅外相機,基于a-Si非晶硅材料探測器的長波紅外非制冷相機,包括小型、高性能長波紅外非制冷相機(遠紅外相機)Gobi+ 640系列和緊湊型高分辨率工業(yè)熱成像應用的Ceres T系列。a-Si探測器材料是一種新興的半導體薄膜材料,是一種直接能帶半導體,一般除了應用在半導體、太陽能電池上,也可用作自計溫度計照相機(
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
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