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詞條說明
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或*微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu),就必須選擇波長*短的光源,以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,電子束的波長要比可見光和紫外光短得多,并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比,也
產(chǎn)品材料成分檢測通常包含以下幾個項目:有害物質(zhì)檢測:檢測產(chǎn)品中是否含有有害物質(zhì),如重金屬(如鉛、汞、鎘)含量、致癌物質(zhì)(如苯并芘、農(nóng)藥殘留)含量等。化學(xué)成分分析:檢測產(chǎn)品材料中各成分的含量和比例,如金屬元素(如鐵、銅、鋅)、非金屬元素(如碳、氮、氧)、添加劑(如防腐劑、增塑劑)等。材料標(biāo)識與認證:檢測材料是否符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和認證要求,如檢測食品包裝材料是否符合食品安全標(biāo)準(zhǔn),測試建材材料是否符合建筑
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或*微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu),就必須選擇波長*短的光源,以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,電子束的波長要比可見光和紫外光短得多,并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比,也
進行環(huán)境檢測的目的是為了保護環(huán)境和人類健康,確保各種活動對環(huán)境的影響得到控制和監(jiān)測。以下是進行環(huán)境檢測的幾個重要原因:確保合規(guī)性:環(huán)境檢測可以幫助企業(yè)和組織遵守環(huán)境法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn),確保其活動的環(huán)境影響在可接受的范圍內(nèi)。這有助于保護環(huán)境,避免環(huán)境污染和破壞,維護生態(tài)平衡。預(yù)防環(huán)境污染:通過環(huán)境檢測,可以及早發(fā)現(xiàn)和識別潛在的環(huán)境污染源,采取相應(yīng)的措施進行預(yù)防和減少污染物的排放。這有助于保護土壤、水體和空氣
公司名: 成都國威冠準(zhǔn)檢測技術(shù)有限公司
聯(lián)系人: 楊小姐
電 話:
手 機: 15680666890
微 信: 15680666890
地 址: 四川成都郫都區(qū)現(xiàn)代工業(yè)港
郵 編:
網(wǎng) 址: cdyouer.cn.b2b168.com
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